Плотность дефектов у TSMC N2 заметно ниже прошлых техпроцессов

TSMC не только раскрыла подробности технологической нормы N2, но и рассказала, что её разработка идет куда лучше прошлых узлов производства. Это можно заметить в случае сравнения плотности дефектов, демонстрирующей серьезное улучшение по сравнению с N7, N5 и N3.

Плотность дефектов у TSMC N2 заметно ниже прошлых техпроцессов

До массового производства по 2-нм техпроцессу TSMC, основанному на новом типе транзисторов GAAFET вместо проверенного годами FinFET, осталось два квартала, и, несмотря на это, он уже демонстрирует себя куда лучше всех прошлых узлов, так как у него плотность дефектов уже ниже самого удачного в этом плане N5 и куда ниже по сравнению с N3.

Плотность дефектов у TSMC N2 заметно ниже прошлых техпроцессов

Выявить проблемы при использовании нового технологического процесса можно за счет производства микросхем на его основе, но для этого необходимо иметь достаточное количество заказов, чтобы создавать разные по строению и функционалу кристаллы. Судя по всему, у TSMC очень много заказов даже в случае рискового производства, раз у неё получается так быстро решать проблему с дефектами.

Источник

Добавить комментарий